光學測角比較儀
光學測角比較儀 型號：XQZ
用途和特點：
XQZ光學測角比較儀可廣泛適用于光學及機械制造業中，計量部門、車間以及研究院、所的實驗室。實施光學棱鏡、光學平板的自準測量、參照標準角規對金屬零件及光學零件的比較測量；導軌的直線度及平板的平面度校準測量；兩個平面的垂直度、軸與軸端面垂直度測量等。
XQZ光學測角比較儀操作簡便、直觀，測量穩定可靠，借助輔助設備用途廣泛。
技術參數：
|
型號 Model |
示值 Graduation |
分度范圍 Scale Range |
目鏡放大倍率 Magnification |
示值不確定度 Uncertainty |
工作距離范圍 working range |
外形 Dimension(D×W×H) |
| XQ60-ZⅠ | 1′ | V60′,H40′ | 10×/15× | ±6″ | 0～1.4m | 200×250×400 |
| XQ15-ZⅡ | 15″ | V50′,H38′ | 20× | ±3″ | 0～1.4m | 200×250×400 |
CCD監控系統（適用ZI型）